金屬鍍層測厚儀是通過輻射原理來實現的。射線穿透被測物體，強度衰減。通過的光線由IMS開發的探測器頭（電離室）捕獲。通過測量幀中的測量轉換器對通過的光線進行處理和轉換以供進一步使用。

　　本產品是一種大范圍的涂層測厚儀，它是高科技的結晶，它采用單片機技術，精度高，數顯，指示穩定，功耗低，操作簡單方便，觸摸按鈕，單探頭全量程測量，體積小，重量輕；具有存儲、讀出、統計、低壓指示、系統校準等功能。

　　金屬鍍層測厚儀常采用的兩大測量原理分別如下：

　　一：磁感應測量原理

　　當采用磁感應原理時，涂層厚度是通過探頭穿過非鐵磁性涂層到鐵磁性基體的磁通量來測量的。相應的磁電阻也可以測量來代表涂層的厚度。涂層越厚，磁電阻越大，磁通量越小?；诖鸥袘淼臏y厚儀，原則上可以測量磁性基體上非磁性涂層的厚度。一般來說，基底的滲透性應在500以上。

　　如果包層材料也是磁性的，則要求磁導率和基底之間的差異足夠大（例如在鋼上鍍鎳）。將軟核線圈周圍的探頭置于待測樣品上，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品使用指針式儀表來測量感應電動勢的大小。儀器放大信號，然后指示涂層厚度。磁性原理測厚儀可對化工、石油等行業的油漆層、瓷漆保護層、塑料和橡膠涂層、鎳、鉻等有色金屬鍍層及各種防腐層進行準確測量。

　　二：電渦流測量原理

　　高頻交流信號在探頭線圈中產生電磁場。當探頭靠近導體時，在導體中形成渦流。探頭離導電基底越近，渦流越大，反射阻抗越大。此反饋作用表示探針與導電基板之間的距離，即導電基板上非導電涂層的厚度。由于這種探頭是專門用來測量非鐵磁金屬基體上鍍層厚度的，所以通常稱之為非磁性探頭。

　　當金屬鍍層測厚儀采用渦流原理時，原則上可測量所有導電體上的非導電涂層，如航空航天飛機、車輛、家用電器、鋁合金門窗等鋁制品表面的油漆、塑料涂層和陽極氧化膜等。涂層材料具有一定的導電性，也可以通過校準來測量，但兩種材料的導電率至少應相差3-5倍（如在銅上鍍鉻）。